在禁用芳香胺的檢測中，基質效應是一個不可忽視的問題，它可能影響檢測結果的準確性。RoHS分析儀結合氣相色譜-質譜聯(lián)用（GC-MS）技術，為解決這一問題提供了有效手段。
RoHS分析儀常用于檢測電子電氣產品中的有害物質，而GC-MS則以其高靈敏度、高精度和多組分同時分析的能力，在禁用芳香胺的檢測中發(fā)揮著重要作用。然而，實際樣品中的復雜基質可能干擾目標化合物的檢測，導致基質效應。
為補償基質效應，可采取多種策略。一方面，利用基質標準溶液進行校正。將空白樣品經前處理后，加入一定量待測物標準，制備基質標準溶液，以此對檢測結果進行校正，消除基質效應帶來的偏差。另一方面，選擇合適的色譜分離條件。通過優(yōu)化色譜柱、柱溫程序、進樣口溫度等參數(shù)，使目標化合物與基質干擾物有效分離，降低基質效應的影響。
此外，采用合適的內標物也是關鍵。內標物可抵消質譜離子化時的基質效應，以及樣品前處理過程中的差異，提高定量結果的準確性。在RoHS分析儀結合GC-MS的檢測中，選擇與禁用芳香胺性質相近的內標物，能更好地補償基質效應。
通過上述基質效應補償分析方法，RoHS分析儀結合GC-MS技術能夠更準確地檢測禁用芳香胺，為電子電氣產品的環(huán)保合規(guī)性提供可靠保障，有助于制造商確保產品符合相關法規(guī)要求，避免因違規(guī)而遭受罰款和信譽損失。
